비교 스탠드는 래핑 처리된 기준 앤빌 위에 다이얼 게이지 또는 디지털 게이지를 고정하여 신속한 비교 측정을 가능하게 합니다. 부품은 설정된 마스터와 비교하여 검사되므로 배치에 대한 반복 검사가 빠르고 일관되게 수행됩니다.
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